纳米光子学OCT系统 光学相干层析成像/NDT

OCTANE-860 纳米光子学光谱仪（光学相干层析成像/无创伤测试（NDT）应用OCT）

光学性能相当于自由空间产品；低成本、可升级、超稳定封装

 

 款用于OCT的纳米光子学光谱仪系统，解决了传统光学元件的体积限制问题。

Tornado的OCTANE-860光谱仪使用集成光学元件作为它的光学核心，外形很小，但光学性能相当自由空间水平。

设计用于OEM生产。

 

OCTANE优势

1. 灵活的ZX波长和光谱范围；

2. 无移动部件/对准要求；

3. 温度稳定和隔振性能良好；

4. 一体式OCT光谱仪；

5. 大批量生产；

6. 单模光纤输入；

7. 小型化；

8. 低成本；

9. 从要求到原型只需数周时间；

10. 无移动部件；

11. 基于晶圆。
      

OCTANE-860包含一个偏振光分束器（PBS），PBS与在同一块平面波导（PLC）芯片上的两个色散元件连接。线性阵列（LA）的前1024像素读出TE偏振光，而后1024像素读出TM偏振光。

 

 

规格参数：

 

OCTANE-860 纳米光子学光谱仪 应用说明：

（光学相干层析成像/无创伤测试（NDT）应用OCT）

 

一、光学相干层析成像：开启NDT潜能

Tornado Spectral开发了的OCTANE光子学光谱仪系列用于OCT应用。它们满足商用OCT光谱仪的工业标准，不再使用自由空间组件而是使用集成光学元件作为光学核心。它们是无创伤测试应用上光学性能，且能根据要求定制商用方案。

 

工作原理

OCT工作方式与超声波相似，但是使用光波而不是声波。光在样品或物体上进行扫描并观测。通过处理反射回来的光然后转换创建可达几个毫米的深度剖面。成像深度取决于样品的光学性能和OCT器件的配置。成像分辨率也由OCT器件配置确定，可达到微米级的轴向和横向分辨率。

 

 

OCT扫描实例

 

二、无创伤测试（NDT）应用OCT
 

Tornado的OCTANE使用纳米光子学技术，克服了自由空间限制，使OCT用于无创伤测试成为可能。由于OCT的快速、准确、扫描时间短的特点，所以非常适合用于NDT。

光学相干层析是完成液晶显示屏（LCD）坏点检测的一种有效方法。芯片上OCT不会受到以下因素限制：

成本效率、尺寸、操作安全和显示结果。这种无创伤方法适用于平面平板或柔性显示器。

 

传统OCT的挑站

1. 高成本小批量；OCT系统要求昂贵的光学组件，且需对准；

2. 大器件外形不便于在线质量和控制系统的集成平；

3. 仪器受振动和温度变化影响大；

4. 要求重复校准。

 Tornado的OCTANE技术

1. 及早发现失效和不合要求的测量；

2. 纳米级光子学结构无需对准；

3. 无接触、非入侵和无创伤工作；

4. 实时的原位二维和三维成像，快速结果；

5. 微米级轴向和横向分辨率；

6. 成像深度可达几个毫米。