OLYMPUS(奥林巴斯)超声波测厚仪
OLYMPUS奥林巴斯26MG手持式超声波测厚仪
Panametrics-NDT 26MG 型是一款价格低廉的超声腐蚀测厚仪,用于内部被腐蚀或被侵蚀的材料的精确测量。 它的重量轻(只有8.5 盎司,0.24 公斤) 、体积小、易于操作。厚度测量可以从壁的一侧进行,无需切开被测量部件。
26MG 提供多种实用测量功能。譬如探头类型自动识别功能;快速最小值模式,即可以在每秒20次的快速扫描下保持显示最小读数;冻结模式,即可以冻结显示来捕捉重要的厚度数据。一个带有电致发光背光的液晶显示器,用大而醒目的数字来显示测量到的厚度。
26MG 型超声测厚仪WM将操作简单、价格低廉和性能ZY三大优点融为一体。
特色
重量轻:仅有0.24 公斤(8 .5 盎司)
使用方便:袖珍型
250 小时仅用两节AA 碱性电池
测厚范围宽: 0.5 毫米 - 508 毫米 (0.020英寸 - 19 .999英寸)
自动探头识别
耐高温
大型背光显示器
快速最小模式,以快速扫瞄速率保持显示最薄尺寸
冻结模式即时捕获临界厚度
毫米/英寸选择
用两个易于更换的AA 碱性电池供电时,26MG 可使用250小时。 一个低电量显示器连续地更新显示电池状态
26MG 的典型应用于对存储容器、管道、压力容器、锅炉管、蒸汽管线、船壳以及其它受内腐蚀影响的构件的测量
标准内装件
D799 双晶片探头和电缆
手腕带
测试块
耦合剂
操作手册
两年保修单
Magna-Mike8600奥林巴斯测厚仪
【产品特点】:
设计符合IP67标准
可更换防磨帽:标准型和凿尖型
容量扩充了的字母数字式数据记录器
两种坚固耐用的新型探头:平直型和直角型
保存校准文件并调用所存储的校准文件
可编辑的密码式仪器锁定
彩色VGA显示:RS-232、USB和VGA输出
新型台式机身结构,带有改进的仪器支架
快速测量更新率:60Hz
可将文件以CSV和txt格式导出到MicroSD 卡中
目标选择:4.76毫米和6.35毫米目标磁珠
目标钢线:更大的厚度范围,可测的厚度高达25.4 毫米
【技术参数】:
分辨率:0.1 mm、0.01 mm、0.001 mm(取决于厚度范围)
重量:1.68公斤,包括锂离子电池
总体尺寸:236 mm X 167 mm X 70 mm
电池供电时间(可选) :12到13小时(锂离子)
数据记录器:基于文件的内置字母数字数据记录器
键盘:英文、日文、中文、国际符号
报警:高报警和低报警
最小/ZD测量模式:以60 Hz速率进行测量
显示刷新率:4 Hz、8 Hz、16 Hz及20 Hz
语言:英语、西班牙语、法语、德语、日语、汉语、葡萄牙语、瑞典语、挪威语、荷兰语、波兰语、俄语、匈牙利语、捷克语及意大利语
电源要求:AC主电源:100 VAC~120 VAC、200 VAC~240 VAC,50 Hz~60 Hz
数据存储:机载2 GB MicroSD卡和可插拔2 GB MicroSD卡
显示屏尺寸(宽 x 高,对角线) :117 mm × 89 mm,146 mm
显示器类型:全色VGA(640 x 480像素),透反彩色LCD,60 Hz更新速率
新附件包(校准包)
扩展的范围,可达25.4毫米
标准试块,厚度可达9.1毫米
圆盘包
带状图视图
目标钢线包
测量
Magna-Mike为用户提供了更多的目标选项:5个不同的目标钢珠、2个目标圆盘及一
目标钢线,极大地增强了仪器的测量性能。
Magna-Mike8600测厚仪测量的厚度范围在0.001毫米到25.4毫米之间
OLYMPUS奥林巴斯38DL PLUS手持式超声波测厚仪
产品简介:
38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可WM地适用于几乎所有超声测厚应用,而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用,包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量,以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能,以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求,可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在完全的黑暗中都能具有JJ的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。
主要特性:
• 可与双晶和单晶探头兼容。
• 宽泛的厚度范围:0.08毫米~635毫米,根据材料和所选探头而定。
• 使用双晶探头进行腐蚀测厚。
• 穿透涂层和回波到回波测量功能,用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
• 内部氧化层/沉积物软件选项。
• 对于所有探头,标准分辨率为0.01毫米。
• 使用频率范围为2.25 MHz~30 MHz的单晶探头,高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001
毫米的厚度测量。
• 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
• 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
• 厚度、声速和渡越时间测量。
• 差分模式和缩减率模式。
• 时基B扫描模式;每次扫查可获得10000个可查读数。
• 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
• 设计符合EN15317标准。
简便操作的设计理念
• 可用右手或左手单手操作的简洁的键区。
• 可直接访问所有功能的简便易行的操作界面。
• 内置和外置MicroSD存储卡。
• USB和RS-232通讯端口。
• 可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器。
• 可连接计算机或显示器的VGA输出。
• 默认或自定义双晶探头设置。
• 默认或自定义单晶探头设置。
• 密码保护功能可以锁住仪器的功能。
数据记录器和PC机接口
38DL PLUS测厚仪带有一个功能齐全的内置双向字母数字式数据记录器,可方便地收集和传输厚度读数和波形数据。
• 内置存储容量为475000个厚度读数或20000个带有厚度读数的波形。
• 32位字符的文件名称。
• 20位字符的ID# (TML#)编码。
• 9个文件格式:增量型、序列型、带自定义点的序列型、2-D栅格型、带自定义点的2-D栅格型、3-D栅格型、3-D自定义型、锅炉型及手动型。
• 每个ID# (TML)编码可最多存储4个注释。
• 注释可存储到一个ID#编码上或存储到一系列ID#编码上。
• 内置和外置MicroSD存储卡。
• 可以在内置和外置MicroSD存储卡之间拷贝文件。
• 标准USB和RS-232通信。
• 单晶和双晶探头设置的双向传输。
• 机载统计报告。
• 机载DB栅格视图,带有3种可编程的颜色。
• GageView接口程序通过USB或RS-232端口与38DL PLUS测厚仪通信,可以读取MicroSD存储卡上的数据,还可以在存储卡上写入信息。
• 可将内部文件以与Excel兼容的CSV(以逗号分隔值)格式直接导出到MicroSD存储卡。
GageView™
• 基于Windows的GageView接口程序用于收集、创建、打印及管理来自38DL PLUS测厚仪的数据。
• 创建数据集和测量总结。
• 编辑所存数据。
• 显示数据集和测量总结文件,文件包含厚度读数、测厚仪设置值及探头设置值。
• 从测厚仪上下载厚度测量总结,或上传厚度测量总结至测厚仪。
• 将测量总结导出到电子表格及其他程序。
• 收集捕获的屏幕。
• 打印有关厚度、设置表格、统计及彩色栅格的报告。
• 升级操作软件。
• 下载和上传单晶和双晶探头设置文件。
• B扫描回顾
对内部腐蚀的金属材料进行厚度测量
38DL PLUS测厚仪的一个主要应用是测量那些受腐蚀或侵蚀的管道、管件、箱体、压力容器、外壳及其他结构的剩余厚度。这些应用中最常使用的是双晶探头。
• 用于标准D79X系列双晶探头的自动探头识别功能。
• 10个自定义双晶探头设置。
• 校准过程中用于双晶探头的优化默认增益。
• 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
• 校准过程中出现回波加倍时使用的校准加倍功能。
• 用于测量带有漆层和涂层表面的材料的穿透涂层和回波到回波测量功能。
• 高温测量:温度可高达500°C。
• 锅炉管件和内部氧化层测量(可选项),使用M2017或M2091单晶探头。
• EMAT探头(E110-SB),用于对外部附有氧化层/沉积物的锅炉管件进行不使用耦合剂的厚度测量。
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