美国CRAIC QDI系列显微分光光度计结合了显微学及光谱学的优势,实现了对显微样品的非破坏性成像、光谱测量和分析。 QDI2010™ZX进的紫外可见近红外显微分光光度分析系统。 无损测量样品的透射率,反射率,荧光和偏振光谱。 QDI 2010™ 显微分光光度分析系统,具有科研级高分辨探测器,全光谱增强稳定性;科研级光学接口,高分辨彩色成像系统。WIDOWS XP操作系统,应用软件使用简单,操作方便。主要应用于生物学,材料科学,医药学,纳米技术,半导体科学,刑事科学,石油,煤炭,工业质量控制等科研领域。
QDI 2010全光谱(紫外/可见/红外)显微分光光度计是目前世界上光谱范围最宽的显微分光光度系统,也是目前WY采用冷却科研级数码CCD的显微分光光度系统。显微镜由德国蔡司高端科研级显微镜改装而成。QDI2010 是德国显微学和美国光谱学ZX成果联合的结晶。
QDI 2010全光谱显微分光光度计不仅能够获得显微样品的高质量显微图像,还可以对样品进行微小区域全光谱(紫外-可见光-近红外)测量。ZD光谱范围可从200nm延伸到2100nm。可完成透射或吸收光谱、反射光谱、荧光光谱和偏振光谱的采集分析。QDI系列显微分光光度计分析系统以其无与伦比的质量性能,简单易用的操作界面和专业化的售后服务为显微学和光谱学开辟了崭新的应用空间。
QDI 2010可做吸收或透射、反射、荧光及偏振分析。
QDI 2010 使用WIDOWS XP操作系统,对电脑无特殊要求,其
应用软件使用简单,操作方便。
QDI 2010 无论是显微成像技术,还是高清晰图象采集技术及高分辨率光谱分析技术,QDI 2010都是你ZJ选择。
◆ 全光谱一次扫描,波长ZD范围从200nm—2010nm
◆ 光谱采样面积:2—50微米
◆ 高清晰度图象采集:1280X1024 彩色感光点阵
◆ 高灰度级:16位灰度
◆ 精细光谱,光谱带宽:0.32nm
◆ 高光谱分辨率:1 到 15nm 可调
◆ 波长自动校准
◆ 全谱扫描时间:最小1毫秒
◆ 荧光可被365nm,405nm,436nm,546nm激发
◆ 科研级致冷阵列检测器:
◆ 紫外增强
◆ 极低的读出噪声
◆ 宽动态范围:50000:1
◆ 高信噪比:2000:1半导体致冷,极小暗电流