偏光显微镜

上海沪杏光学的仪器介绍：XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子等专业最常用的专业实验仪器。该仪器通过光学与电子显微镜配合使用，可在微观上观察其熔化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。

       上海沪杏光学仪器有限公司原系沪星仪表厂shhhx17.com，前身主要为国家高科研、定向生产JD仪器仪表，建厂历史悠久，产品质量过硬，科研水平领先，长期保持光荣的传统和优良的作风。改制后的我们，秉承原有的开创精神，经过几代人的ZY奋斗，已发展成为集研制和生产光学计量测试仪器以及先进GX的光学冷加工设备的综合性企业的联系方式：021-20227929。

XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪仪器采用人性化设计，自动化程度高、操作简单、技术先进、性能优秀、结构新颖可靠，属于该领的领先水平产品。仪器可供广大用户作单偏光观察、正交偏光观察、锥光观察以及显微摄影，同时观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化，控温装置。本系统配置有石膏λ、云母λ/4试片、石英楔子和移动尺等附件，具有可扩展性，可连接计算机和数码相机对图片进行保存、编辑和打印，是一组具有较完备功能和良好品质的新型产品。

XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪显微镜技术参数

XPH-400系列透射型偏光熔点测定仪总放大参考倍数

电脑型（XPH-400E型）：100--2600倍         
数码型（XPH-400Z型）：100--2000倍

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