瑞典XCounter双能光子计数X射线探测器

瑞典XCounter双能光子计数X射线探测器PDT25-DE

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产品描述：PDT25-DE

紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。

PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。

引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE先进之处，在双能采集过程中，通过两个独立的阈值将探测到的光子能量加以比较，并分别读出，双能设置可用作材料分析，这为新的医学和工业X射线成像技术开启了大门。反符合技术的运用，确保将每一个光子信号分布在适当的像素点上，从而获得更高的能量分辨率。

集成

通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。

应用

*小范围辐照  

*小动物成像 

*实验室样品和标本成像 

*反向散射成像  

*工业检测（NDT）

特点和优势

*CdTe-CMOS传感器，高品质成像

*双能采集，具有材料区分能力

*反符合技术，ZY的能量分辨率

*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式

*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8

*配有功能强大的系统软件

技术参数

物理参数

尺寸 （L×W×H）：94×54×20mm

重量：150g（235g 带钨防护）

温度控制：Internal Peltier温度控制

环境温度：+15 - +45℃

储藏温度：-10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度

ZD消耗功率：10W

射线窗：碳纤维， 厚250μm

射线屏蔽：根据应用

传感器

传感器类型：双能光子计数 CdTe-CMOS

传感器厚度：0.75mm-2.0mm CdTe

有效面积：25.6×25.6 mm2

像素：100μm

像素填充率：100%

性能

帧率：ZG35fps

动态范围：12 bits

曝光时间：100μs-5s （通过软件，可以设置更长时间）

DQE（0）：85%@RQA5 spectra

MTF：＞80% @ 2lp/mm

＞45% @ 5lp/mm

管KV范围：15-140 kVp

内部测试模式：伪随机调试模式

外部触发输出：3.3 V TTL

输入：3-15V

滞后：0%

拖影：＜0.1%  X射线开启后1分钟（12μGy）

分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）