光电直读光谱仪简介 光电直读光谱仪ICP-AES广泛用于冶金行业上,除了可测金属元素外,还可测C、B、P、S等非金属元素,也可以用在对电子电器特别是玩具中的有害物质检测。 产品类型号为:WLD-4C ■性能指标·激发光源: 电源电压:50Hz、220V±10% 输入功率:1.0KVA·分光仪系统 分析波段范围:175-450nm 色散率:0.55nm/mm 凹面光栅: 曲率半径:750mm 刻划密度:2400线/mm 允许多通道:36个 分光仪局部恒温:30℃±0.1℃·测控系统 测量方式:分段积分 测量重现性:RSD≤0.2%·数据处理系统 计算机:采用工控嵌入式系统、液晶显示屏 应用软件:采用Windows系统下的中文操作软件 ■产品特点 (1)仪器结构设计合理,更加小型化、集成化。 (2)分析速度快、重复性好、稳定性好。 (3)采用高集成化采集和控制系统,自动化程度高。 (4)可用于多种基体分析:黑色金属:Fe、Co、Ni、Ti等;有色金属Cu、AI、Pb、Mg、Zn、Sn等。 (5)采用高重复性、高稳定性的激发光源,激发频率在150-600Hz之间变化,根据用户所分析材质选用,以达到的分析效果。(6)采用Windows系统下的中文操作软件,方便简捷。 (7)建有数据库,可通过网络远程传输数据。 (8)抗震性能强,不需作防震基础。 (9)采用局部恒温,既保证了仪器的正常运行,又降低了对环境的要求。 试验室条件: ·环境 温度20℃±5℃,相对温度不大于70% ·氩气 要求纯度优于99.999% ·电源 AC380V±10%50Hz3KW,三项四线配置 ·地线 不得借用其它地线,必须专用,要求接地电阻小于2Ω。 激发光源:·电源电压:50Hz、220V±10%;·输入功率:1.0KVA;·放电频率:400 Hz/200 Hz,可调整;分光仪: ·分析波段范围:175~450nm;凹面光栅:·曲率半径 750mm;·刻划密度:2400线/mm;·刻划面积:30×50mm2;·闪耀波长(一级):300nm;·线色散:0.55nm/mm;·入射狭缝宽度:20μm· 出射狭缝宽度:50μm、75μm;·允许多通道:36个;·分光仪局部恒温:30℃±0.5℃;·真空度要求:1.0~4.2Pa;测控系统:·测量方式:分段积分;·重现性:RSD≤0.2%;·光电倍增管高压电源电压:-1000V;·稳定度:8小时优于0.5%;
元素 含量范围 % | 元素 含量范围 % | 元素 含量范围 % | 元素 含量范围 % | Al 0.001~10.0 | Cu 0.005~10.0 | P 0.001~2.0 | Ti 0.001~3.0 | As 0.001~0.30 | Fe 0.002~10.0 | Pb 0.001~10.0 | V 0.0005~6.0 | B 0.0005~0.50 | Ga 0.0005~0.50 | Pr 0.001~0.50 | W 0.01~22.0 | Bi 0.001~0.50 | La 0.001~0.50 | S 0.001~0.50 | Zn 0.01~40.0 | C 0.001~4.20 | Mg 0.005~10.0 | Sb 0.001~0.50 | Zr 0.001~3.0 | Cd 0.0005~0.50 | Mn 0.001~20.0 | Si 0.001~25.0 | | Ce 0.001~0.50 | Mo 0.001~10.0 | Sm 0.0005~0.50 | | Co 0.002~15.0 | Nd 0.001~3.0 | Sn 0.001~10.0 | | Cr 0.001~30.0 | Ni 0.001~30.0 | Sr 0.001~0.50 | |
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| 光电直读光谱仪WLD-1C1、3C1 |
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