技 术 规 格 | 测量对象 :(X)射线(50keV~) | 探 测 器 :Si 半导体探测器 | 有效测量范围 :0.1μSv/h~1Sv/h | 显示范围 :0.00μSv/h~1.00Sv/h | 指 示 值 误 差:±15%以内(137Cs) | 能 量 响 应 :±30%以内(相对于137Cs、60keV~1.5MeV) | 角 响 应 :±25%以内(±90°)137Cs | 显 示 器 :TFT彩色液晶显示器 | 显示内容 :剂量率、模拟表头显示(自动量程切换)、Z大剂量率、电池电量显示、过载、 | 报警、时钟、剂量率趋势图、设定一览表 | 数据演算方式 :时间常数一定方式、标准偏差一定方式、高精度演算方式(移动平均方式) | 报警设定 :有(关电源设定值保持不变) | 计数?报警音 :有(ON/OFF切换、音量可调) | 背 光 :自动OFF功能可以设 使用/不使用(1分钟~999分钟)内任意设定 | 数 据 保 存 :连续记录、瞬间记录 3000个数据以上保存 | 数 据 输 出 :USB2.0 Mass Storage Class
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