| 类型 | 电子显微镜 | 品Pai | JPK |
| 型号 | S-Image/E-SWEEP | | |
技术参数新型的Nanonavi控制系统 Q值控制功能：DFM模式下探针振动的品质因子Q值可以控制。可极大提高相位、磁畴等的分辨能力。? SIS Mode (Sampling Intelligent Scan) 智能扫描系统：。? 可实现四通道8192×8192 数据采集，图像更精细。主机有：S-Image为多功能型，可实现AFM,DFM,STM,MFM,EFM,KFM,C-AFM，液相测量，封闭液体槽等E-SWEEP型为可控环境型，除可实现SPA400所有功能外，还可实现高低温控制，高真空及大气环境，气氛控制，可连续变温实时观察。可实现样品微观物理性能变温动态观察和数据分析。L-trace II为大样品台型，能对6英寸或8英寸的样品直接自动测量。主要特点SPA400为多功能型，可在大气及液体环境中实现各种SPM测量功能，操作简单，分辨能力高，皮实耐用。E-SWEEP型为可控环境型，主要特点是： 扫描在封闭的Chamber中进行，可对测量的环境（高真空、高温、低温、液体、电化学等）进行控制。 专业级的真空Chamber，所有的部件都是针对高真空和高低温环境所设计；? Z高分辨的可控环境SPM，是一款可实现原子级分辨的可控环境SPM；? 适合各种金属、陶瓷及高分子材料在不同温度下的性能表征，温度范围宽且控制稳；? 采用性能优异的磁悬浮分子泵，避免了真空系统对测量的影响，即使启动真空系统，设备也能进行高分辨稳定的测量；? 高真空环境，保护高低温条件下的测量、消除空气对测量的影响、研究物质在高真空环境中的特殊性质；? 双测温头设计，不仅测量样品台温度，而且能测量样品表面温度，彻底解决温度梯度导致的误差；? 独特设计的控温台和扫描器，保证各种温度条件下稳定而高分辨的测量；L-trace II为大样品台型，能对6英寸或8英寸的样品直接测量，高度自动化，标配闭环扫描器。仪器介绍精工电子科学仪器事业部成立于1937年,是研制、开发和生产分析测试仪器的专业厂家。其产品如扫描探针显微镜SPM、聚焦离子束加工FIB、能散式X-荧光分析仪、膜厚测试仪、热分析仪、等离子体质谱仪、等离子体发射光谱仪等，均秉承了精工集团在精密仪器制造方面的精湛技术。为适应纳米科技的高速发展，精工电子科学仪器事业部正式更名为精工电子纳米科技有限公司SII Nanotechnology Inc.。SII 自1985年开始致力于扫描探针显微镜的研究和开发，距今已有近20年SPM研发生产历史，是早从事SPM研发生产的厂商，并随着相应技术的发展和更新换代相继推出不同系列高品质商品化的SPM产品，使SPM这一仪器家族愈臻完善，以满足科学研究和工业等不同领域的需要。SII SPM被科研机构广泛采用，每年销售量达数百台，总量达数千台。SII从2000年进入ZG市场，产品被国内诸多ZD大学和科研院所广泛地使用，用户包括清华、北大、中科院等科研单位，用户总数超过100台。SII Nanotechnology Inc.在ZG拥有完备的技术咨询、技术支持和售后服务体系。国内的专业工程师可在产品演示基地现场为您演示仪器的操作使用，提供仪器的安装、调试、详尽的技术培训和完善的售后服务，让您免除一切后顾之忧。所有仪器均配备了详尽的中、英文两种版本操作说明书，以方便用户使用
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