型号:S1 TURBOSD 品Pai中的精英,精品中的! 快速、GX、准确;探矿、找矿、评估的理想工具。 分析速度快,精度高,实现了现场分析地质化学成份,如矿石表面,岩芯或已备好的样品。通过实时多重采样,可直接评估矿石级别,立时获得分析结果,不仅大大提高了生产力和生产进度,而且将获得结果的时间从实验室分析的数天提高到现在的几秒。 SDD探测器的计数率和分辨率,远高于SI-PIN检测技术,分析速度快了5倍。这意味着对所有元素检测限更低,结合FP校准模式,可检测所有矿石样品。 测量元素范围: Mg, Al, Si, P, K,Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Zr, Nb, Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Ta, W, Pt, Au, Hg, Pb, Bi, U, Ru, Rh等 金属矿:钾矿、钙矿、钛矿、钒矿、铬矿、锰矿、铁矿、钴矿、镍矿、铜矿、锌矿、锆矿、铌矿、钼矿、锡矿、锑矿、铅矿、铪矿、钽矿、铼矿、铋矿等; 非金属矿:磷矿、硫矿、砷矿、硒矿、碘矿等; 贵重金属:金矿、铂矿、银矿、钌矿、铑矿、钯矿等。 还可分析沉淀物、填料、精矿、尾矿、矿渣中残存的矿石元素及碎片;土壤、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层;废水、废油等等的固体、液体物质等; 对不规则或很小的样品都能快速完成识别测试。 可选台式支架确保辐射安全,对特殊样品(如袋装的)进行测量,以保护环境。 对矿石开发与含量分析进行快速、精确分析野外操作时,自由携带,非常方便 技术规格 | 重量 | 1.5kg | 尺寸 | 30cm(L)x10cm(Wx 28cm(H) | 激发源 | X射线管,Ag靶,40kV | 检测器 | XFlash®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快;能量分辨率高:145eV, 计数率:100 kcps | 冷却系统 | Peltier半导体冷却系统 | 电源 | 交、直流供电;2块充电锂电池,可连续工作8-12小时 | 工作条件 | 温度:-20℃~+55℃ 湿度:0~95% | 电池充电器 | 交流充电器:110/220V,50/60Hz | 计算机/显示器 | 240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏 | 数据传输 | USB,无线蓝牙,SD卡 | 数据存储 | 主机:512MB 存储卡:CF/SD卡,2GB,能存储几十万个光谱图谱和测量数据 | 热表面适配器 | 热表面适配器,可测量500℃高温样品 | 安全 | 密码保护,设有多级安全锁 | 运输箱 | 减震、抗压、防水、密封仪器箱 | 支持语言 | 包括中、英文在内12种语言(用户自选) | 质保期获得认证 | 整机2年 CE、TUV、IECEE、ISO9001 |
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