5000C型 晶体管图示仪 晶体管图示仪

5000C型 晶体管图示仪详细描述 　5000C型 晶体管图示仪特性
成熟的技术
高速数据记录
可以测试混合、 集成元器件
50A 标准, 10 0A选项
0.1NA 分辨率
完全自检
自动计量
RDSON 可达0.1毫欧分辨率
Windows® 平台软件
扫描器
晶片图选项
特性曲线
1KV标准配置，2KV选项
5000C型 晶体管图示仪测试器件
分立器件: MOSFET, IGBT, TRANSISTOR, TRIAC, SCR, DIODE, ZENER, MOV, STS/SBS, QUADRAC®, SIDAC, JFET, OPTO- COUPLER
阵列 / 逻 辑器件: MULTIPLE DEVICES, MIXED DEVICES, OPTO LOGIC, OPTO SWITCH, OPTO TRIAC
IC / 集成 电路 / 继电 器: REGULATOR, POWER HYBRIDS, RELAYS
5000C型 晶体管图示仪测 试能力
以一个 MOSFET （金属氧化物半导体场效应晶体管）六个步骤（VGSTH，BVDSS， RDSON， 2 VGSON 和 GFS 计算）的编程测试为例，整个过程运行仅需约 96 毫秒。满负荷 运行每小时可测试 37440 个元件。
5000C型 晶体管图示仪基本特性
50A / 1KV 标准 100A 选项 2KV 选项l 99 测试 (256 测试选项) 96 分类 支路扩展 分选平台 程控继电器驱动 自动计量* 自检* 数据管理* 可用LabView或其他软件与其他测试设备连接 晶片图选项
5000C型 晶体管图示仪测试方法
5000C 型仪器采用单次测量的测试技术，以保证每一个测量值只对应激活一个测试程序就可 完成，包含像 hFE 的测试。这样可以使得仪器在短的测试时间内，Z小化器件内部加热的 同时，获得Z大测量能力。 5000C 型仪器的高分辨率保证了测量数据的高精度，如在 1A 的测试电流下，测量 RDSON 的 精确度可达到±0.5毫欧姆。
5000C型 晶体管图示仪适配器
扫描器: ADP401 A-8/16 8 or 16 Pin程控矩阵
多路测试: MUX-3S/4S: 3 路或4路输出平台
夹具 /适配器: 可选的夹具系列，可用于直插式或表面贴装式等 器件的测试