BDT-33 半导体检测测显微镜 芯片检测显微镜 高倍显微镜

是否提供加工定制	是	类型	光学显微镜
品Pai	巴拓	型号	BDT-33
仪器放大倍数	50X-2000X	目镜放大倍数	10X 20X
物镜放大倍数	5X 10X 20X 40X 60X 100X	适用范围	金属太阳能板、半导体封装测试、集成电路、电子芯片、电路板、液晶板、镀涂层，及其它非金属材料，对一些表面状况进行研究分析的工作等
装箱数	1

BDT-33系列正置反射高倍半导体检测测显微镜适用于对不透明物体进行显微观察。仪器配置落射照明、长距平场消色差物镜、大视野目镜，图像清晰、衬度好，同时还配有内置偏光观察装置。本仪器可用于鉴别和分析各种金属和合金材料及非金属物质的组织结构，广泛应用于电子、化工和仪器仪表行业观察不透明的物质。如金属太阳能板、半导体封装测试、集成电路、电子芯片、电路板、液晶板、镀涂层，及其它非金属材料，对一些表面状况进行研究分析的工作等。本仪器系大专院校，科研机构，工厂等的理想仪器。BDT-33V/BDT-33C电脑/数码系列高倍半导体检测显微镜通过光电转换后可与计算机，数码相机以及电视机等设备结合在一起，不仅可以在目镜上观察，还能在显示屏幕上观察实时动态图像，还可在计算机，数码相机上将所需要的图片进行编辑、保存和打印。性能特点：配置大视野目镜和长距平场消色差物镜，视场大而清晰。粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，微动格值:2μm。带限位锁紧装置6V 20W卤素灯,亮度可调。三目镜筒,可自由切换正常观察，可进行透光摄影技术参数：

平场目镜	放大倍数(X)		视场(mm)
	10X		Φ18
	20x		Φ11
	10x(分划目镜)		Φ18
平场消 色差物镜	放大倍数（X）	数值孔径（NA）		工作距离（mm）
	5X	0.12		18.3
	10X	0.25		8.9
	20X	0.45		8.7
	40X	0.60		3.7
	60x	0.85		0.26
	100x(油)	1.25		0.44
光学放大倍数	50X100X200X400X600X1000X2000X
系统参考放大倍数	50X-3000X
目镜筒	三目镜,倾斜30?瞳距调节范围：53-75mm
照明系统	落射照明器，6V/20W卤素灯，220V（50Hz）亮度可调具
偏光装置	三目头内置检偏振， 可插入式起偏振片,垂直照明装置，
调焦机构	粗微动同轴调焦,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置 微动格值:0.002mm,调焦范围15mm
转换器	四孔(内向式滚珠内定位
滤色片组	黄色、蓝色、绿色、磨砂玻璃
载物台移动范围	X方向：75mm；Y方向50mm

仪器选配件：１、目镜：5X12.5X16 X２、物镜：50X80X３、动态检测软件（BT-2000V）４、二维测量软件（BT—2000M）