非接触电阻率测试仪 非接触厚度测试仪 非接触方块电阻测试仪
厂家直销 型号:HAD-JXNR-1
一、产品特点 | 1.非接触测量硅半导体材料的电阻率 | 2.适合测试硅片,不损伤样品表面。 | 3.采用通用PC处理数据,方便数据存储、打印 | 4.软件界面直观友好 | 5.样片校准快速、方便 | 二、推荐工作条件 | 1. 温度:23±2℃ | 2. 湿度:60%~70% | 3. 无强光照、无强磁场、不与高频设备邻近 | 三、参数指标 | 1.整机尺寸:340mm×260mm×150mm | 2.电阻率量程:0.1~50Ω﹡㎝ | 3.误差范围:±5% | 4.硅片厚度:适合150-600um厚度
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