智能转速监测保护仪/转速监测保护仪:RHA-JM-C-3F
用途:
智能转速监测保护系列主要用于旋转机械的转速测量。本系列采用非接触测量方式,可对等份120齿内的旋转机械进行监测,并精确测量到1转/分。具有Z大值记忆和显示以及三级报警开关量输出。备有电流输出,可供外接记录仪和微机等连接用。本装置突出了以人为本的指导思想,具有高度智能化,实现全面板操作,适宜长期在线监测,无需现场维护。
主要功能
1.具有高度智能化,参数设置实现全面板操作。
2.适宜长期在线监测,安装调试方便简单,无需现场维护。
3.具有三级报警开关量输出。
4.具有4~20mA电流模拟量输出。
5.量程、报警、危险、超速值任意设置。
6.Z大值自动记忆和查询。
7.零转速监测仪能够对低转速进行精确测量。
8.反转速监测保护仪主要针对正反转监测和显示。
技术参数:
1.显示方式: LED数字显示
2.测量范围: 0~9999转/分(高转速测量范围:0~99999转/分)
3.测量精度:±1转/分
4.齿数设置:1~120齿任意设置(出厂值60齿)
5.输入方式: 转速监测仪:CS-1传感器信号、CS-3传感器信号
零转速监测仪:CS-3传感器信号
反转速监测保护仪:2个CS-3传感器信号、CS-3F传感器信号
危急遮断转速监测保护仪:3个CS-1传感器信号
6.输出方式:电流输出:4~20mA(负载≤1KΩ)
三级开关量输出:DC 27V/2A 或 AC250V/
7.环境温度: -10~65℃(相对湿度:≤85%)
8.供电电压: AC 220V/50HZ±10%
9.安装方式:盘式
10.外形尺寸:常规样式:160mm(长)×80mm(高)×260mm(深)
11.开孔尺寸:常规样式:152mm(长)×77mm(高)
| 超微量分光光度计/超微量紫外分光光度计 型号;RHA-K5600 | K5600超微量分光光度计 | K5600超微量分光光度计是一款新型全波长超微量分光光度计,可用来检测核酸、蛋白质、细胞溶液、微阵列样品以及常规全波长扫描等。同时有暗室和检测平台,可选择比色皿和检测平台两种测量形式。 | 仪器特点 | 样品用量少(0.3~2µL)! | 使用比色皿或检测平台两种测量形式! | 紫外-可见全波长扫描(200~850nm)! | 无需预热,可随时检测! | 检测速度快! | 直接显示浓度值! | 样品无需稀释,可测样品的浓度范围是常规紫外-可见分光光计的200倍! | 数据统计软件方便容易掌握! | 性能指标 | 光程: 1mm、0.2mm(0.1、0.05可选) | 样品体积要求: 0.3~2µL | 光源: 氙灯 | 检测器: 2048-元素线性硅化CCD阵列 | 波长范围: 200~850nm | 比色皿规格(光程): 1mm, 2mm, 5mm, 10mm | 波长精度: ±1nm | 波长分辨率: 2nm (FWHM at Hg 546nm) | 吸光率精确度: 0.002 Abs | 吸光率准确度: 1% (0.76吸光率在350nm) | 吸光率范围: 0.002~75(150,300可选,等效于10mm) | 核酸测量范围: 0.4~3750ng/µl(7500,15000可选,dsDNA) | 蛋白质测量范围: 0.01~100mg/ml(200,400可选,BSA) | 样品测量时间: 小于5秒 | 仪器外形尺寸: 24cm×21cm×11cm | 仪器重量: 1.92kg | 测量范围 | K5600软件系统提供了五个测量模块:核酸,蛋白质,细胞溶液,微阵列和常规全波长扫描。 | Nucleic Acid: 核酸(DNA/RNA)样品的浓度和纯度 | Protein: 蛋白质A280(1Abs=1mg/mL,BSA,IgG,Lysozyme) | 蛋白定量试剂盒法(Lowry法、BCA法、Bradford法) | Cell Culture:细胞溶液 | UV-VIS: 紫外-可见全波长扫描(200-850nm) | Microarray: 微阵列样品检测,可同时检测荧光染料的浓度和核酸的浓度 | 测量操作 | 1 以移液枪吸取样品(0.3~2µL)滴加到检测平台上,放下取样臂。 | 2 或打开暗室,放入比色皿。 | 3 点击软件界面上的“Measure”按钮,即可得出样品参数(吸光度和浓度)和图表。 | 4 用干净的吸水纸擦去上下检测平台上的样品。 | 5 如需保存图表,可点击“Save Graph”按钮。 | 6 待全部样品测定结束后,点击“Show Report”按钮,已测样品的测定数据将出现在Excel表格中。
数字式四探针测试仪/四探针电阻率测定仪/四探针测试仪RHA-M-2 | 一、结构特征 如上图
二、概述
HAD-M-2型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块电阻(简称方阻),换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。
本测试仪可赠设电池供电,适合手持式变动场合操作!
仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入;具有零位、满度自校功能;自动转换量程;测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成,故定位准确、游移率小、寿命长;测试结果由数字表头直接显示。
| 三、基本技术参数
1.测量范围、分辨率
电 阻: 1.0×10-2~ 2000Ω, 分辨率0.1×10-3~ 0.1×10Ω
电 阻 率: 1.0×10-2~ 200 Ω-cm 分辨率0.1×10-2~ 0.1Ω-cm
方块电阻: 1.0×10-1~ 2000Ω/□ 分辨率1.0×10-1~ 0.1×10Ω/□
2.可测半导体材料尺寸
直 径: 测试台直接测试方式 Φ15~130mm,其他方式不限.
长(或高)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
北京润恒奥仪器仪表设备有限公司 : : : 邮箱:rha51296004@163.com QQ: 2692464127 网址:www.rha51296004.com www.51296004.com :辛影 温馨提示:以上产品资料和图片顺序均与产品介绍相对应
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