芯片卡三轮测试仪产品介绍:«识别卡测试方法»ISO/IEC10373-3-2001,智能卡三轮压力测试仪根据IC卡CQM项目对卡三轮测试,芯片卡三轮测试仪适用于对识别卡、带触点的集成电路卡进行三轮往复循环测试。 | HY(SL)三轮测试仪根据Master 卡CQM项目对卡进行三轮测试。卡被放到机器中,测试轮将循环测试100次,芯片前方滚动50次,芯片后方滚动50次,循环频率为0.5Hz,向下的压力为8N。经过测试,检查芯片情况,芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。 | 1.芯片卡三轮测试仪型号:HY(SL) |
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