布鲁克原子力显微镜FastScan

布鲁克原子力显微镜FastScan（Atomic Force Microscope，AFM），在不损失Dimension  Icon 超高的分辨率和ZY的仪器性能前提下，ZD限度的提高了成像速度。这项突破性的技术创新，从根本上解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。

功能特点：布鲁克原子力显微镜FastScan

◆采用ZD热漂移的针尖扫描AFM技术，提高了系统的固有振动频率。

◆应用新的NanoScope控制器，为机器提供了更高的带宽。

◆开发了小悬臂的生产工艺，在空气中共振频率为1.3MHz，在液体中共振频率为250KHz到500KHz。

◆采用了低噪音的机械和电子的主要部件，结合高共振频率X-Y-Z扫描管，在技术上获得了重大突破。

◆更高的带宽提供了精确的力控制和高扫描速度，结合高精度的闭环控制，在效率上远远高于其它任何商业化的AFM。

◆以20Hz扫描速度进行TappingMode成像得到的图片的分辨率和以1Hz扫描速度得到的图片的分辨率一样高，即使使用更高的扫描速度>100Hz,图像分辨率同样不会降低。

◆在ScanAsyst模式中，使用6Hz的扫描速度可以得到高分辨率的图片，即使扫描速度达到32Hz同样可以得到普通分辨率的图片。

◆Z方向，探针在Contact模式中移动速度可达到12mm/s，同时在闭环工作中X-Y方向的移动速度达到2.5mm/s， X-Y方向的跟踪误差<1%，真正使Fastscan成为了世界上*台快速扫描AFM。

◆自动的激光和检测器的调节使得实验的组建更为快速有效。

◆系统使用自带的样品导航软件MIRO，利用光学成像系统能够在几分钟之内分辨并抓取纳米级的样品特征。

◆的光学系统可以使用任何Bruker的探针，在不降低系统稳定性的前提下，得到的激光信号调节。

◆针尖扫描系统的设计与210mm大尺寸样品台结合，消除了样品尺寸的限制，同时维持了ZD的噪音和热漂移水平。