弯曲试验台200N

产品概述：弯曲试验台200N

“顶视”和“侧视”是指从“电子束”的方向观测样品，而不管设备是光学显微镜、原子力显微镜或扫描声学显微镜。

产品规格弯曲试验台200N

3点－和4点－弯曲试验台模块, 200 N

该多用途产品允许从顶部或侧部观测样品，或者在不同显微镜平台间切换，而无需将样品从弯曲台中取出和改变所施加的应力。

应用

一定机械应力下样品表面变化的静态或动态观测，裂纹生长，分层现象，滑移面形成等。

金属, 陶瓷, 玻璃, 陶瓷块体材料或薄膜, 电镀层, 焊球或焊点, 矿物, 木材, 有机材料。 

性能参数

• ● 负荷范围: from 0 ... 0.2 up to 0 ... 200N

• ● 样品尺寸 (ZD尺寸): 48 x 10 x 4 mm

• ● 变形速度范围: 0.5 to 100 µm/sec.

• ● 弯曲变形范围: 0 to 5 mm(根据试验不同变化）

• ● 电源: 220 or 110 V AC. 

• ● 尺寸（mm, W×H×L）: 40 x 40 x 180 

控制器

手动控制器和电脑软件自动控制可选 

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