手持式X荧光土壤重金属检测仪日立分析仪器宣布推出一款坚固的手持式X 射线荧光光谱仪(XRF) — X-MET8000,该仪器能够对土壤中的污染元素进行高精度、高可靠性的鉴定。日立分析仪器的手持式X 射线荧光光谱仪誉满,X-MET7000 是其第五代产品。
手持式X荧光土壤重金属检测仪这款拥有日立分析仪器PentaFET® 探测器技术的仪器,保证了用户对所有感兴趣的元素均得到快速分析,并且提供更低的元素检测下限。
X-MET8000可以为塑胶、印刷线路板、电缆、塑胶外壳、焊料、紧固件、金属薄片和其他电子元器件提供快速、无损、“对准即测”的筛选分析。
国家立法严格保护土壤质量,使得土壤中重金属鉴定日显重要,同时,通过预先分拣受污染的土壤也可以大幅度降低垃圾填埋的费用。这款新产品可在数秒内完成对“可疑污染区域”的分析,十分便捷GX。
其强大的用户自定义软件能够提供准确的分析结果,从而提高了“合格/不合格”决定的可靠性。X-MET8000 能够识别材料类型,并自动选择分析方法。
借助于其可选配的台式支架,可免除执行多分析任务时的手工操作,同时又不会令测量结果的置信水平受到任何影响。
使用手持式X射线荧光光谱仪在进行土壤筛选,可以有效降低实验室分析的成本,并迅速作出决策。
l 精确测定重金属和其他有毒元素只需要几秒钟
l 4.3”市面ZD的屏幕,呈现最清晰的结果
l 快速分析,快速采取补救措施
l 用户自定义上下限,结果合格/不合格清楚显示
l GPS装置将分析数据和位置坐标结合起来