一、产品介绍:CLJ-V多点式尘埃粒子测试监控系统
随着我国洁净室(洁净系统)的建造技术的提高,对洁净系统的检测要求也逐步提高,根据需要实时监测已成必然趋势, CLJ-V多点综合参数检测系统使用光散射原理,将光学传感器(半导体激光)超小型化,采用分散式多点采样,集中式数据处理的监测手段,能够实现128点实时监测,变送器通用互换性良好,多点检测器和其他传感器可分离使用,也可集成使用,关键部件使用进口部件,将整机性能达到国外同类产品的水平。检测参数:洁净度、浮游菌、温湿度、微压差、风速等,可根据用户需要选择。该产品广泛适用于制药、电子、精密仪器、仪表、光学、化学实验等其他领域。
二、技术参数:CLJ-V多点式尘埃粒子测试监控系统
型号 | CLJ-VI | CLJ-VII |
外形尺寸 | 100*120*62(W*D*H,不含接口) |
监控范围(μm) | 0.3~10 | 0.3~10 |
电源 | DC6-24V |
供电系统 | 外接DC12V(AC-DC 80V-260V |
输出接口 | RS-485自定义协议输出接口,ZD点数可连接128个,最长测量距离1Km |
控制接口 | 带PLC控制接口,可和生产线上PLC机联动:4-20mA接口 |
采样量 | 2.83L/min | 28.3L/min |
采样气泵 | 采用德国KNF或英国CHARLES AUSTEN |
同时监控通道数 | 标准0.3,0.5 2通道 ,可更改其它粒径通道 |
排气过滤器 | 内置美国PALL排气过滤器,不污染生产环境 |
通讯模式 | RS232/485, 4-20Ma, 0-5v | Rs232/485, 4-20Ma, 0-5v |