GRIMM SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,由DMA+FCE组成。DMA(Differential Mobility Analyser)差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类,FCE法拉第静电沉降器(Electrostatic Precipitator)对颗粒物进行计数。
GRIMM SMPS+E扫描电迁移率粒径谱仪差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类,喷嘴将粗的颗粒去除,减少大颗粒的干扰;同时建议前置个静电中和器,消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计,可减少颗粒损失;顶端层流器,使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地,ZX极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与ZX极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度),具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出,其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒,进入法拉利杯对颗粒物进行计数。
SMPS+E系统,用于0.8nm ~ 1100nm粒径范围100 ~ 108P/cm3浓度范围内的纳米颗粒物计数和粒径分析。组成部分有:静电中和器(DBD)、GX差分离子电迁移器DMA、DMA控制器(可调控DMA电压、FCE设置和气体流量)、法拉第杯静电计FCE(快速且低噪音)。
FCE利用法拉第杯周围的冲洗气流避免内部污染,防机械振动和耐受压力变化的设计使其成为纳米颗粒物计数的校准参考。