GRIMM SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,固定式由DMA+CPC5.414组成检测系统,移动式由DMA+CPC5.403组成检测系统,用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。GRIMM DMAs符合Vienna-type设计特征,对小颗粒物有分辨率和ZD分散损失,根据实验需求不同,有两种长度的电极。
GRIMM SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类,喷嘴将粗的颗粒去除,减少大颗粒的干扰;同时建议前置个静电中和器,消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计,可减少颗粒损失;顶端层流器,使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地,ZX极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与ZX极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度),具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出,其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒,进入CPC凝聚核粒子计数器(Condensation Particle Counters)对颗粒物进行计数。