UV-A单通道紫外辐照计
UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
特点:
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示,带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口(USB,冗余供电)
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作,蜂鸣提示
技术指标:
项目
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参数
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备注
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波长范围λ1,峰值波长λp
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(320~400)nm,λP=365nm
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用户二选一
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波长范围λ2,峰值波长λp
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(375~475)nm,λP=420nm
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辐照度测量范围
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(0.1~199.9×103) μW/cm2
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紫外带外区杂光
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0.02%
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相对示值误差
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±8%(相对于NIM标准)
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角度响应特性
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±5% (α≤10°)
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线性误差
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±1%
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换档误差
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±1%
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短期不稳定性
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±1%(开机30min后)
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疲劳特性
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衰减量<2%
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零值误差
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满量程的±1%
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响应时间
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<1秒
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使用环境
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温度(0~40)℃;湿度<85%RH
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尺寸和重量
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160mm×78mm×43mm;0.2kg
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电源
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6F22型9V积层电池(非充电电池)
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整机功耗
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<0.1VA
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