手动探针台probe station探针测试仪电性测试设备

半导体领域探针台

        在集成电路的研发、生产制造、实效分析过程中，经常要量测内部的电参数，由于制成的越来越低，没有办法用简单的万用表、示波器的表笔来探测信号。手动分析探针台能很好的帮助工程人员实现微小位置的电学参数测试。Advanced在ZG推出手动分析探针台

型号：   PW-400                              
规格：
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm（选项）
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2～4颗
适用领域：4寸Wafer，如晶圆厂、LED、学术单位等

型号：   PW-600/PW-800

规格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y电动移动行程150mm（200mm）
chuck粗调升降8mm，微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6～8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域：6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
 
 RF高频探针台

东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探针材料：BeCu/Tungsten