Stratometer G非接触式面电阻测试仪
测量原理:高频法
它可以测量薄膜上的导电金属表面;玻璃、纸张、塑料等的氧化表面、漆涂层表面或不能接触的表面。
STRATOMETER G是一个小的手持式仪器。测量仅需要将样品放置在简单的仪器附件上。
测量范围:0,5...20欧姆/平方。
尺寸:约230×120×50毫米(不含基座)。
特点:
显示的片电阻欧姆/平方、西门子/ SQR(MHO)光密度及厚度(纳米级);
可输入一个材料常数,存储100个测量值;
串行接口(RS-232)的数据传输到PC。
分辨率会自动调整测量值。
保持充电的电池,并允许连接到PC(通过RS-232)
技术规格:
测量方法:高频反应(涡流感应)
核心测量范围:0.5…20Ω
可扩展范围:达50Ω
解析度:0.5 Ω:/0.001 Ω
2 Ω以上:/0.01Ω
20 Ω以上/0.1Ω
精确性:0.5…5.0 Ω/sq: 5%
5.0…20 Ω/sq: 7%
20…50 Ω/sq:10%
测量连续性:2秒钟
串行接口:RS-232(通过插接座连接)
操作环境温度:+10—+45℃
外形尺寸:23cm*7cm*4cm
重量:约510克
Stratometer G 可测量产品/应用:
- 包装箔(食品/制药/YL)
- 金属化电容器箔
- 窗膜(防晒)
- 镀膜玻璃(LOW-E,ITO,TCOetc。)
- 太阳能电池生产
- 金属化标签
- 装饰膜/纸
- 柔性电路板(FCB)
- 电偶涂料的
- 溅射层
- 等。