日置LCR测试仪IM3536 日置LCR测试仪IM3536 HIOKI/日置总代理全国优势供应

日置LCR测试仪IM3536 HIOKI/日置总代理全国优势供应

济南千斗工业科技有限公司代理销售的日本日置LCR测试仪IM3536具有测量频率DC，4Hz~8MHz、测量时间：zui快1ms、基本精度：±0.05% rdg、1mΩ以上的精度保证，可测量低阻、可内部发生DC偏压测量的特点，我们提供全新原装保证100%*售后服务。

日置LCR测试仪IM3536主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。

日置LCR测试仪IM3536基本参数

测量模式 LCR（单一条件下测量），连续测量（保存条件下连续测量）

测量参数Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流电阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε

日置LCR测试仪IM3536测量量程 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）

显示范围 Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等

基本精度 Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）

测量频率 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)

测量信号电平 [V模式, CV模式]的[通常模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zui大50 mA)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zui大10 mA)

[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zui大100 mA)

[CC模式]的[通常模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zui大5 V)

1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zui大1 V)

[CC模式]的[低Z高精度模式]

4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zui大1 V)

[直流电阻测量]: 1 V固定

DC偏压 发生范围：DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)

输出阻抗 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω

显示 彩色TFT5.7英寸，触摸屏

日置LCR测试仪IM3536功能 比较器、BIN测量（2个项目10种分类），触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能

接口 EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出

日置HIOKI电学测试产品是本公司强项品Pai价格非常有优势欢迎询价

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