XP2U微量天平进口天平精密天平

极限值

XP2U

zui大称量值

2.1 g

可读性

0.0001 mg

重复性（sd） - 加载处

0.00025 mg

- 低加载（加载处）

0.0002 mg （0.2 g）

线性误差

0.001 mg

灵敏度漂移

1.5 x 10^-5

灵敏度温度漂移 ^2）

0.0001 %/°C

灵敏度稳定性 ^3）

0.0001 %/a

典型值 ^4）

典型重复性（sd）

0.00015 mg+2.5 x （10^–8）· R_gr

典型微分非线性（sd）

√8x（10^-14） · g · R_nt

典型灵敏度偏移（sd）^2）

3x（10^-6）· R_nt

典型zui小称量值*（符合USP）

0.45 mg+7.5 x （10^–5） · R_gr

典型zui小称量值* （@ U=1 %, 2 sd）

0.03 mg+5 x （10^–6） · R_gr

典型稳定时间

< 10 s

^1）根据OIML R76

^2）在10到30°C的温度范围内

^3）*次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性

^4）能用于估计不确定度  sd=标准偏差      Rgr=毛重     Rnt=净重（样品质量）   a=年

*  重复性和zui小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。