大量程光电测长仪
用途:
· 可在较大范围内对位移或长度进行精密测量。
· 经过适当变换,间接测量压力、温度、硬度、液位、应力、应变等。
· 可作为精密定位基准,用于集成电路X—Y工作台的定位校准,超精加工机床的坐标定位控制等。
· 可作动态测量反馈实时控制,在和机械加工中实现大量程的在线测量和反馈控制。
· 可广泛应用于自动化生产线对大批量生产的工件进行自动分选和质量控制。
· 配以适当支架或附件,可做成各种专用的大量程测量装置,如高度规检测仪、坐标校准仪等。
参数:型 号 | 数显分辨率 | zui大示值误差 | 测量范围 |
LG25-01 | 0.1μm | ± (0.4+0.012L)μm | 0-25mm |
LG25-001 | 0.01μm | ± (0.1+0.004L)μm | 0-25mm |
LG25-0001 | 0.001μm | ± (0.04+0.001L)μm | 0-25mm |
LG50-01 | 0.1μm | ± (0.4+0.012L)μm | 0-50mm |
LG50-001 | 0.01μm | ± (0.1+0.004L)μm | 0-50mm |
LG50-0001 | 0.001μm | ± (0.04+0.001L)μm | 0-50mm |
LG100-01 | 0.1μm | ± (0.4+0.012L)μm | 0-100mm |
LG100-001 | 0.01μm | ± (0.1+0.004L)μm | 0-100mm |
LG100-0001 | 0.001μm | ± (0.04+0.001L)μm | 0-100mm |