两箱温度冲击试验箱|提篮式冷热冲击试验箱|两箱冷热冲击试验箱|两箱冷热冲击箱|两箱高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,都会用到,是各领域对产品测试的必不可少的一项测试箱。
两箱温度冲击试验箱|提篮式冷热冲击试验箱|两箱冷热冲击试验箱|两箱冷热冲击箱|两箱高低温冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备,用于测试材料结构或复合材料,在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度,得以在zui短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱满足的试验方法:GB/T2423.1.2、GB/T10592-2008、GJB150.3高低温冲击试验。
两箱温度冲击试验箱|提篮式冷热冲击试验箱||两箱冷热冲击箱|两箱高低温冲击试验箱特点:
◆zui佳的结构设计,保证测试区移动顺畅
◆采用新型PWM制冷控制技术实现低温40%节能运行
◆通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能
◆机台多处报警监测,配置无线远程报警功能
◆冲击试验移动时间5秒钟以内可符合MIL, IEC, JIS规范
◆可扩充:LN2V液态氮快速降温控制装置
◆世界*的超温保护及设定条件防呆保护功能
◆ 机台多重保护装置,Error故障表软件装置
两箱温度冲击试验箱|提篮式冷热冲击试验箱||两箱冷热冲击箱|两箱高低温冲击试验箱满足标准:
GB/T2423.1-1989低温试验方法;
GB/T2423.2-1989高温试验方法;
GB/T2423.22-1989温度变化试验;
GJB150.5-86温度冲击试验;
GJB360.7-87温度冲击试验;
GJB367.2-87 405温度冲击试验。
两箱温度冲击试验箱|提篮式冷热冲击试验箱||两箱冷热冲击箱|两箱高低温冲击试验箱技术规格:赛思品Paiwww.sethtest.com
Models | SEL-A | SEL-B | SEL-C |
Inside Dimensions W x D x H cm | 40X40X30 | 50X50X30 | 60X60X30 |
Outside Dimensions W x D x H cm | 136X192X205 | 146X230X220 | 162X232X220 |
Preheating Temperature | +60.00℃~+200.00℃ |
Precooling Temperature | -10.00℃ ~ -70.00℃ |
H.T.Shocking | +60.00℃ ~+150.00℃ |
L.T.Shocking | -10.00℃ ~-65.00℃ / -55.00℃ / -40.00℃ |
Time Range | 0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment |
Recovery time | -40.00/-55.00/-65.00℃ ~ +150.00℃ /5min |
Resolution Temperature | ±0.01℃/Time:1 min |
Control Constancy | ±0.5℃ |
Temperature uniformity | ±2.00℃以内(under±2.00℃) |
Micro Controller | SEL-2010 |
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