镀层测厚仪 COMPACT系列
镀层测厚仪COMPACT系列,广泛应用于PCB、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析及镀液分析;是中、小电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。
镀层测厚仪COMPACT系列具有超高性价比,有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量JZ、测量时间短等特点;具有高生产力、高再现性,能有效控制产品质量,节约电镀成本。
仪器参数
型号 | COMPACT Eco | COMPACT Eco PIN | 备注 |
测量元素范围 | Ti22---U92 | |
镀层和成分分析 | - 镀层:zui多同时测定5层(4层镀层+基体材料)
- 成分:zui多同时测量20种元素
| |
测量方法 | | |
X射线激发 | - 50Kv、1.2mA(60W)高压发生器
- 微聚焦W靶X射线管
| |
成像系统 | - 彩系统
- 20倍放大倍数
- 被测样品图像实时显示功能
- 电脑显示屏具有画中画功能
| |
计算机系统 | - Inter Pentium G2030,内存2G,硬盘500G
- 17吋液晶彩色显示器
- MicrosoftTM Win7 32bit
| |
样品台规格 | | |
仪器外形 | 长×宽×高400×600×400mm(不含电脑、显示器) | |
zui大样品 | 长×宽×高380×370×100mm | |
程控Z轴移动距离 | ≤60mm | |
主机重量 | 41Kg(不含电脑、显示器) | |
单准直器规格 | Ø0.3、Ø0.5mm | - Ø0.1、Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5mm
- 0.1×0.3mm
| 仅配单准直器 |
探测器 | 正比例计数器 | - 25mm2半导体(Si-PIN)探测器,Peltier电制冷
- 能量分辨率约270eV
| |
软件模块可选 | μ-Master用于镀层测量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析(珠宝) Report-Master用于微软报告文件 Data-Master用于数据库管理 Liquid-Master用于电镀液分析 | |
产地 | 德国 | |