产品简介:长期供应/特价Agilent4291A/HP4291A阻抗分析仪Agilent4291A/HP4291A 阻抗分析仪HP4291A频率范围:1M—1000M主要用途测试材料的阻抗Z,导纳Y,电感L,电阻R,介电损耗D ,品质因数射频阻抗计量器具检定系统 Verification Scheme of RFImpedance Measuring Instruments JJG 2011-87 代替:高频阻抗量值传递系统射频阻抗计量器具检定系统 本检定系统适用于射(高)频集总参数阻抗计量器具(即检测20kHz-1GHz频段的R,L,C元件和材料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯上也称高频)集总参数阻抗量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。 一、计量基准器具 1、高频集总参数阻抗的计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻抗量值(包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率)的计量设备和量具。 2、射(高)频集总参数阻抗计量基准器具包括: 2.1空气介质同轴线阻抗基准,其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗基准,本检定系统移用它,有利于射(高)频、微波阻抗量值的统一。在(1-1000)MHz频段,其技术指标为: 反射系数模值|г|:1.000&plun0.002; 相角:&plun180°&plun0.5°。 2.2高频阻高频阻抗精密测量装置,它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪,经过准确度论证分析,保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能: 频率:(1-1000)MHz 反射系数模值|г|:1.000&plun(0.003-0.007) 相角θ:&plun180°&plun0.5°; 阻抗模值|Z|:1Ω-10kΩ&plun(0.5-10)% 电容C:10pF-100nF&plun(0.2-10)%; 电感L:10nH-100μH&plun(0.2-10)% 损耗:tgδ(D)0
1、浏阳3128高压绝缘电阻测试仪 安捷伦高阻计 的具体参数
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供应HP4339B毫欧表|高阻计|高阻测试仪Agilent4339B
HP4339B
Agilent4339B|HP4339B|HP-4339B 毫欧表|高阻计|高阻测试仪
品Pai: 安捷伦 | Agilent | 惠普 | HP
特点
*测量范围宽:1×103 ~1.6×1016Ω
*测试夹具稳定:比电阻盒,元件测试夹具
*测量速度高:10ms
*按测试顺序编程
*计算电阻率
*被测器件可接地测量
规格
测量参数:R(直流电阻),I(直流电流),ps(表面电阻率),pv(体电阻率)
数学功能:偏差和百分偏差
显示数字:3,4或5位(可选择)
测试电压:0.1 ~ 1000Vdc
0.1 ~ 200Vdc时,以0.1V步进
0.1 ~ 1000Vdc时,以1V步进
电压精度:≤200V时为0.16%+100mV
>200V时为0.16%+500mV
电流:≤100V时为10mA;≤250V时为5mA
≤500V时为2mA;≤1000V时为1mA
电流相容性调定:0.5mA,1mA,2mA,5mA,10mA
输出电阻:1KΩ&plun10%
输入电阻:1KΩ&plun10%
测试电缆长度:2 m (值)
测量范围和精度:
直流电流:60fA~100uA 基本精度:&plun0.4%
直流电阻:1×103 ~1.6×1016Ω 基本精度:&plun0.6%
测量时间:短:10ms;中:30ms;长:390ms
修正功能:
开路误差为0:消除由测试夹具中杂散寄生电阻引起的测量误差
测试序列程序:控制一系列电阻测量。充电时间、测量间隔时间和测量次数可以编程。
比较功能:对测量参数设立高/符合/低界限
接触检查功能:
1、 可以检测测试夹具与器件之间的接触故障
2、 可提供的被测器件(DUT)类型
其它功能:
1、 存储/调用:可以由内部非易失存储对10种仪器设置进进存储/调用
2、 连续存储功能:若仪器被切断或发生电源故障,仪器设置将自动被存储起来
3、 GPIB接口:所有控制设置,被测值和比较器信息
一般指标
电源要求:90 ~ 132V或198 ~ 2V,47 ~ 66Hz,45VAmax
工作温度:0℃ ~ 45℃
尺寸:320(宽)×100(高) ×450(长)mm
重量:6.5kg
安捷伦高阻计
HP4339B毫欧表|高阻测试仪Agilent4339B
型号:RL022910GOM-802 固纬高精度编程直流微欧姆计
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显示器 |
| 30000 位数 |
测试电阻 |
测试电流 | DC 1uA ~ 1A |
范围 |
| 30mΩ, 300mΩ, 3Ω, 30Ω, 300Ω, 3kΩ 30kΩ, 300kΩ, 3MΩ 共9档 |
度 | |
| 30mΩ: &plun1% 读值 + 6 位 300mΩ: &plun0.05% 读值 + 6 位 3Ω: &plun0.05% 读值 + 3 位 30Ω~3MΩ: &plun0.05% 读值 + 2 位 |
解析度 | |
| 1uΩ, 10uΩ, 100uΩ, 1mΩ, 10mΩ, 100mΩ, 1Ω, 10Ω, 100Ω |
温度 |
范围 | -50°C ~ 100°C |
度 | -10°C ~ 40°C:0.3% 读值 + 0.5°C Other:0.3% 读值 + 1.0°C |
解析度 | 0.1°C |
操作功能 |
| Hi/Lo, Go/No-Go, Trigger, %, Diode, REL, Temp, TC |
测量速度 |
| 7 次/秒 在 30,000 位数 30 次/秒 在 3,000 位数 |
记录长度 |
| 20 组 |
接口 |
| 标准: Handler, Scan (相同连接器) 选配: RS-232C+GPIB |
使用电源 |
| AC 110V, 120V, 220V, 230V&plun10%, 50/60Hz |
尺寸&重量 |
| 251(宽)×91(高)×291(深) mm 约 2公斤 |
安捷伦高阻计
GOM-802 固纬高精度编程直流微欧姆计
型号:RL023824Agilent4291A/HP4291A阻抗分析仪
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长期供应/特价Agilent4291A/HP4291A阻抗分析仪
Agilent4291A/HP4291A 阻抗分析仪
HP4291A频率范围:1M—1000M
主要用途
测试材料的阻抗Z,导纳Y,电感L,电阻R,介电损耗D ,品质因数
射频阻抗计量器具检定系统
Verification Scheme of RF
Impedance Measuring Instruments JJG 2011-87
代替:高频阻抗量值传递系统
射频阻抗计量器具检定系统
本检定系统适用于射(高)频集总参数阻抗计量器具(即检测20kHz-1GHz频段的R,L,C元件和材料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯上也称高频)集总参数阻抗量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
一、计量基准器具
1、高频集总参数阻抗的计量基准器具是指用于复现和保存20kHz-1000GHz高频阻抗量值(包括电介质材料的复数介电常数和软磁材料的复数导磁率)的计量设备和量具。
2、射(高)频集总参数阻抗计量基准器具包括:
2.1空气介质同轴线阻抗基准,其阻抗量值由同轴线尺寸和材料电磁特性经理论计算求得。它用以校准按反射系数测量原理设计的高频阻抗精密测量装置。空气介质同轴线也是微波阻抗基准,本检定系统移用它,有利于射(高)频、微波阻抗量值的统一。在(1-1000)MHz频段,其技术指标为:
反射系数模值|г|:1.000&plun0.002; 相角:&plun180°&plun0.5°。
2.2高频阻高频阻抗精密测量装置,它是利用从美国引进的HP4191A高频阻抗分析仪,经过准确度论证分析,保证高频集总参数阻抗量的以下计量工作性能:
频率:(1-1000)MHz
反射系数模值|г|:1.000&plun(0.003-0.007)
相角θ:&plun180°&plun0.5°;
阻抗模值|Z|:1Ω-10kΩ&plun(0.5-10)%
电容C:10pF-100nF&plun(0.2-10)%;
电感L:10nH-100μH&plun(0.2-10)%
损耗:tgδ(D)0.001-0.5&plun<(0.002-0.05)
二、高频集总参数阻抗标准
3、集总参数阻抗标准包括:
3.1高频阻抗标准件50Ω,0Ω,0S。它们由基准通过直接比对法传递量值,技术特性如下:
50Ω:|г|≤0.0025; 0Ω:残余阻抗小于2mΩ; 0S:边缘电容值0.080pF。
这些标准件用以校准按电压电流比原理设计的高频阻抗分析仪、高频LCR表等通用高频阻抗测量仪器(校准中还需使用直流以和低频阻抗标准伯)。并由50Ω阻抗件组成模拟损耗件校准Q值、tgδ值等标准设备。
3.2高频、低频阻抗分析仪。这些是市售商品高准确度阻抗测量仪器,也用作计量标准设备,用以定标低准确度的阻抗标准量具。其技术指标为:
频率:20kHz-1000MHz;
阻抗|Z|:1Ω-10kΩ&plun(1-20%);
电容C:10pF-100nF&plun(0.5-20)%;
电感L:10nH-1.00μH&plun(0.5-20)%
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安捷伦高阻计
Agilent4291A/HP4291A阻抗分析仪
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