材质介绍OMRON形状测量传感器E2E-X10MF1
其颜色、材质使传感器探头受光量不足,
同时存在黑色和金属面的检测物体。圆柱形和形状复杂的物体。
对于反光面和透明物体等正反射较强的测量对象,
可稳定测量CCD及CMOS、水晶振动元件的水晶片等的玻璃及表面反光零件。
可根据周围照明环境自动调节感光灵敏度和背景消除水平等参数,
倾斜对应范围比此前型号扩大2.5倍,
可在ZD±5°倾斜范围内实现稳定测量。
较暗涂层面和黑色橡胶等难以反射光线,
作为改进课题之一的测量速度已得到提高,
能彻底减轻外部光线的干扰,从而一举解决该难题。
安装简便。只需要安装传感器探头与控制器,即可投入使用。
而ZG2具有超高灵敏度,
配备的APS功能,
因此即便是在高速生产线上也能使用本产品。
※详情请参阅高性能高斯透镜(P8)
此外,段曝光时间下也可进行测量,
这些检测对象的位置不同,
材质介绍OMRON形状测量传感器E2E-X10MF1
因此以往的激光测量床干起难以测量此类物体。
更简单,更高精度的形状测量。
稳定测量难以检测的颜色、材质与复杂形状
其激光反射量、反射监督也存在差异,
电子零件的组装检测
而配置高性能高斯透镜探头的ZG2-WDS3VT课解决该问题。
如果稍有倾斜,光反射量就会骤减,导致测量变得不稳定。
易受到外部光线的干扰,
欧姆龙独有“多灵敏度感应功能”
通过检测基板与封装面的高低差,完成零件的组装检测。
在解决上述问题中颇受好评,且该功能变得更为强大。
使用与检测镜头与玻璃板等的组装。
从而对应移动物体的检测。
因此很难清晰且稳定地再现轮廓。
轻松且准确地再现形状轮廓。实现高精度测量。
A3PA-7030-1
A22EL-M-T2-11
A22W-2AY
PL11
G2R-2-SND 24DC(S)
CS1D-CPU65P
K33-CPA
CS1W-PTS12
MY4ZH 24DC
MY2IN1 12DC(S)
MY4ZIN1-D2 24DC(S)
PY14-Y1
D4A-D00
D4A-2501N
D4C-1220
D4C-3202
D4C-6302
M7E-022M-1
WLCA12-Y
G3B-205S-VD DC5-24
D4F-220-3R
材质介绍OMRON形状测量传感器E2E-X10MF1