CCI HD 英国泰勒非接触式表面轮廓测量仪

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      CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度测量功能，还可以提供两种类型的膜厚测量。 近年来厚膜分析被用于研究厚度至约 1.5 微米的半透明涂料；测量的厚度限制取决于材料的折射率和标的物的 NA。 测量较薄的涂层被证实为难度更高。
现在通过干涉测量法可以研究厚度至 50 纳米（同样取决于折射率）的薄膜涂层。 采用这种新型方法，可以在单次测量中研究膜厚、界面粗糙度、针孔缺陷以及薄涂层表面的剥离等特性。
2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
全量程0.1埃的分辨率
适用于0.3% - 100%的表面反射率
RMS 重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%

           武汉科赛思机电有限公司是一家专营工业检测、光学检测、环境检测、无损检测、材料检测、水质分析、气体检测、通用分析、生命科学、基础量具、试验机等仪器设备销售、咨询、售后维修服务的专业性公司；是目前国内zui专业的几何量计量、形位公差类超精密仪器商之一。
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