半导体恒温恒湿试验箱 半导体照明高低温冲击试验室

　半导体恒温恒湿试验箱的测试功能：

　　恒温恒湿试验箱用途:恒温恒湿试验箱可以准确地模拟低温、高温、高温高湿、低温低湿复杂的自然状环境，适用于塑胶、电子、LED节能灯，YL产品、电容、电阻、各类材料、汽车配件、金属、化学、建材等多种行业的恒温恒湿试验箱产品可靠性检测，多样化的规格，可根据您的要求非标定做！

半导体恒温恒湿试验箱设备性能：

　　1.内尺寸450*400*350mm（W*H*D）

　　2.外尺寸（约）700*750*600mm（W*H*D）

　　3.温度范围-40℃~150℃（气冷式）

　　4.湿度范围20%～98%RH（可程式）

　　5.降温速率20℃～-40℃/50min（空载下）

　　6.升温速率0℃～+100℃/30min（空载下）

　　7.温度稳定度±0.5℃

　　8.湿度稳定度±2.5%RH

　　9.温度偏差±2.0℃

　　10.湿度偏差±2.5%RH

　　根据市场信息与丰富的研发经验，我们用心设计

　半导体恒温恒湿试验箱结构设计：

　　1.内外箱材质测试区内箱不锈钢板（SUS#304），不锈钢。

　　2.外箱灯源高亮度照明灯

　　3.同温层结构设计有效避免箱体部凝结之技术（）,

　　4.观测视窗观察试品使用（W*L28*35cm）,

　　5.窗口防汗设计采电热器装置，防止水气凝结（40W）,

　　6.测试孔可外接测试电源线及信号用（5.0cm）,

　　7.机台滑轮采滑轮移动调整摆放位置与QL螺栓固定位置（200Kg/轮）,

　　8.保温层保温绝缘层耐燃防火PU＋隔热玻璃棉（保温层厚10.0cm）,

　　9.箱内盘架可活动调整栅盘架与不锈钢条状栅盘二只（盘架每间格5.0cm）.

　　10.箱门采双道隔热气密迫紧,有效隔绝外部温度泄漏.

　半导体恒温恒湿试验箱满足试验标准：

　　GB/T2423.1-2001试验A：低温试验方法

　　GB/T2423.2-2001试验B：高温试验方法

　　GB/T2423.22-2002试验N：温度变化试验方法试验Na

　　GJB150.3-1986高温试验

　　GJB150.4-1986低温试验

　　GJB150.5-1986温度冲击试验

　　（负载参见5.5.6，无有源热负载）

　　主要生产产品：液压振动台,PCT高压加速老化试验机,振动试验台,紫外线老化试验箱,中频振动,盐雾试验箱,恒温恒湿箱,氙灯老化试验箱,高低温低气压试验机,高低温湿热循 仪器试仪,热真空试验设备,紫外光试验箱,快速温度变化试验箱等更多非标测试仪器拨订购

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