一. 时代涂层测厚仪TT230产品概述:
时代涂层测厚仪TT230是一种超小型测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。 本仪器符合以下标准: GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》 |
时代涂层测厚仪TT230采用了涡流测厚法,可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层) 可进行零点校准及二点校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正; 具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE); 具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 具有删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量; 设有五个统计量:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、 测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV); 具有米、英制转换功能; 具有打印功能,可打印测量值、统计值; 具有欠压指示功能; 操作过程有蜂鸣声提示; 具有错误提示功能; 具有自动关机功能。
二. 技术参数: |
测头类型 | N | 测量原理 | 电涡流 | 测量范围 | 0-1250um/0-40um(铜上镀铬) | 低限分辨力 | 1µm(10um以下为0.1um) | 探头连接方式 | 一体化 | 示值误差 | 一点校准(um) | ±[3%H+1.5] | 两点校准(um) | ±[(1%~3%)H+1.5] | 测量条件 | zui小曲率半径(mm) | 凸3 凹10 | 基体zui小面积的直径(mm) | ф5 | zui小临界厚度(mm) | 0.3 | 温湿度 | 0~40℃ 20%RH~90%RH | 统计功能 | 平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、 测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV) | 工作方式 | 直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) | 测量方式 | 连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE) | 上下限设置 | 无 | 存储能力 | 15 个测量值 | 打印/连接计算机 | 可选配打印机/不能连接电脑 | 关机方式 | 自动 | 电源 | 二节3.6V镍镉电池 | 外形尺寸 | 150×55.5×23mm | 重量 | 150g |
三. 基本配置: |
主机 标准片一套(50um 100um 200um 500um 1000um) 铝基体 充电器
四. 可选附件: |
TA230打印机 |