钕铁硼寿命老化箱(www.kcshwhs.com):
待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断路、封装体引脚间因污染造成之短路..等相关问题。进行可靠性试验测试。具有自动加水功能并且在试验过程中水位过低时自动补水。可连续工作999个小时等优点。可通过认可的三方进行设备的检测认证。
钕铁硼寿命老化箱 结构:
1)、圆幅内衬,不锈钢圆幅型内衬设计,可避免蒸气潜热直接冲击试品.
2)、精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续200h
3)、自动门禁,圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制,安全门把设计,箱内有大于常压时测试们会被反压保护.
4)、型packing,箱内压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命.
5)、实验开始前之真空动作可将原来箱内之空气抽出并吸入过滤蕊过滤之新空气(partical<1 micorn).以确保箱内之纯净度.
6)、临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障指示灯显示