Thick800A 天瑞电镀镀层测厚仪

天瑞电镀镀层测厚仪



电镀镀层检测仪的特性

若产生X-射线荧光是由于转移一个电子进入K轨道，一个K轨道上的电子已事先被游离，另一个电子即代替他的地位，此称之为K辐射。不同的能阶转换出不同的能量，如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的一种辐射，而Kβ辐射是电子从M轨道跳至K轨道的一种辐射，其间是有区别的。若X-射线荧光是一个电子跳入L的空轨域，此种辐射称为L辐射。同样的L辐射可划分为Lα辐射，此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ辐射，此是由N轨道之电子跳入L轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%，而Lβ辐射能量较Lα大约20%，所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。

镀层检测仪的原理 

1、首先对我们要了解XRF如何测量元素成分含量的： 

 一个元素的成分计算公式可以简单用下面的公式表示：F?I=C,(这里C是样品含量，F是光谱中此元素比例系数，I是此元素在光谱中的激发强度)，首先标样中已知C(此处用百分比表示)，将此标样放入光谱，按着测试条件开X射线激发标样，此时得到一个I的值，C/I=F(这样就能计算出此元素的含量轻度比列系数)。 

        之后，待测样品放入光谱，同样条件用X射线激发样品，获得待测样品的I值，用这个I值乘以之前得到的F值，F?I=C 就能计算出此样品的含量C的值，这就是XRF测量元素含量的基本原理。 

2、电镀镀层检测仪膜厚原理： 

同理,Th=F?I （这里Th是厚度，单位微米或其他长度单位） 

首先也是用标样来标定，求出此样品的某元素镀层厚度强度比F。 

测试待测样品时，用待测样品的镀层元素激发的I值乘以之前得到的F值，F?I=Th这样就能计算出待测样品的此元素镀层厚度值。