德国PHYNIX公司Surfix PF内置探头铁基统计型测厚仪
1、碳化钨超耐磨测头,特快反应速度
2.同屏显示数据统计值
3.可存储前80个测值
4.可测铁基体上涂镀层
5.量程1500μm,精度±1μm+1%读数
6.分辨率0.1μm.背景光
7.Surfix PF涂层测厚仪有红外可接PC及打印机
技术参数:
测量范围 | 0-1500µm,0 - 60mils |
误差 | ±(1µm+1%读数) |
分辨率 | 0.1µm或小于读数的2% |
显示 | 背光,字母加数字,10mm高,4位数字显示 |
基体zui小面积 | 5mmX5mm |
基体zui小曲率 | 凸面:1.5mm 凹面:50mm |
基体zui小厚度 | F型:0.5mm ,N型:50µm |
校准 | 厂家校准,零校准,校准箔校准 |
数据统计(仅限统计型) | 读数个数(zui多9999个),平均值,标准偏差,zui大值和zui小值 |
数据存储(仅限统计型) | zui多80个测量数值,可单独调出 |
数据值(仅限统计型) | 上下限可调,声音报警 |
数据接口 | 红外通讯,IrDA标准 |
环境温度/表面温度 | 0-50℃/60℃(可选配150℃) |
电源 | 2节1.5伏七号碱性电池 |
仪器尺寸 | 107X50X25mm |
符合标准 | DIN,ISO,ASTM,BS |
操作语言 | 英语、德语或法语 |