Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。
其特点为：激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破坏性测厚仪器的*机型。
可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U） 原子序 22 – 92 准直器：固定种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型1×0.4mm自动种类大小:可选圆形0.1 0.2 0.3 0.4mm 方型0.05×0.4mm综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析 统计功能
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