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    SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

    产品信息

    SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

    SFT9000系列里的机型“SFT9455”，搭载

    75W高速X射线管和双重检验装置（半导体检验装

    置十比例计数管）。适用“薄膜”、“金属

    膜”、“极微小部分测定”等所有镀膜膜厚测

    定要求的高性能膜厚测量仪器。而且

    “SFT9455”在镀膜厚度测量功能的基础上还可

    以用作异物定性分析和材料成分分析。

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