EV系列光学影像测量仪,具功能强大,zui高价格性能比的特点。
EV系列光学影像测量仪采用本公司开发的精密多段倍率,超低变形,远心光学设计的变焦镜头,配上本公司专为光学测量而设计的专用DSP1/2"CCD彩色影像系统,将被测工件的表面纹理清晰细致地显现,轮廓层次分明,精确无误地放大20-125倍作精密测量
EV系列光学影像测量仪以高精度的大理石作机身的支架,配上高精度工作台,X/Y/Z三轴均装有分辨率为0.001mm的精确的光学尺测量系统,X/Y/Z轴的量测精度高达(3+/200)um。
EV系列光学影像测量仪配备由本公司自行开发,功能强大,使用简单的全功能测量软件,测量结果可以图档DXF格式输出至各类通用的CAD软件,如AUTOCAD,MASTERCAM等等,方便用户使用于抄数应用,相反地,用户也可将DXF格式的图档输入至本公司的测量软件内,作直观测量比较。
EV系列光学影像测量仪配备本公司自行开发,使用简单的SPC统计分析软件,使用户可以轻松对其加工流程进行科学化分析,从而轻易地找出流程中的误差趋势,以及工序中存在的问题。所有测量结果均可输出至通用的办公软件,如EXCEL,WORD等格式,方便用户保存,编制质量检查报告,或作进一步的处理。
参数 |
型号 | EV-2515 | EV-3020 | EV-4030 | | | | | 量测行程(X/Y/Z) | 250X150X150mm | 300X200X200mm | 400X300X250mm | 外形尺寸 (长宽高) | 100X60X40cm | 120X72X160cm | 120X72X160cm | 机身重量 | 170kg | 280kg | 410kg | 重复性 | 2um | 机台承重量 | 30kg | 操作方式 | 手动 | 量测分辨率 | 0.001mm | X/Y/Z轴 测量精度 | (3+L/200)um | 光源系统 | 全电脑程控,USB控制四路上光源,直轴可调下光源 | 平台结构 | 00级花岗石机台及立柱 | 精密测头 (选配) | 英国Renishaw高精度接触式精密测头 | 镜头 | 超低变形,多段分辨率远心光学设计镜头(ecetric Lens) | 放大倍率 | 光学放大倍率0.7-4.5X,影像放大倍率20X-125X | 标准电脑配置 | C4/2.4G/256M内存/40G硬盘 17"寸CRT显示器 | 影像系统 | Easson高解析度CCD影像头(1/2"SONY CCD Sensor)及支专用DSP | |