XLE-1型 大平台金相检测显微镜
用途:
XLE-1型 大平台金相检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路,晶片的质量检测而设计开发制造的。金相检测显微镜的特点:1.放大倍数:40倍至400倍;2.超大型载物台
技术参数
1. 机械筒长 160mm
2.
物镜 | 数值孔径 | 有效工作距离(mm) | 介质 |
4× | 0.10 | 17.912 | 干 |
10× | 0.25 | 6.544 | 干 |
20× | 0.40 | 1.05 | 干 |
40× | 0.65 | 0.736 | 干 |
3.目镜 10× 视场直径(mm) --18
4.放大倍数 40×--400×
5.载物台面积 350mmX255mm
纵向移动范围---200mm
横向移动范围---200mm
6.粗微动调焦范围 25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值0.002mm
7.光源 钨卤素灯6V20W。内藏式连续调光电源
8.物镜转换器 四孔式 (三孔式)
9.目镜筒 三目镜 (双目镜)