概述:EN-3020B型分立器件测试仪是用于二极管、IGBT和MOSFET的静态参数测试。系统的测试原理符合相应的国家标准、军标,系统为独立式单元,封闭式结构,具有升级扩展潜能。
EN-3020B分立器件测试仪系统特点:
功率源 3000V/200A
测试系统整体采用计算机操控
测试数据由计算机记录,并进行 Excel 处理
采用脉冲法测试,脉宽为国军标
自动化程度高(可按设定的程序自动测试)
测试灵活(应对器件及多单元模块测试)
EN-3020B分立器件测试仪Labview 平台开发,数据编辑处理功能强,菜单式,模块化,人机友好设备操作简单、性能稳定非常适合电气,电子类厂商, 研究所做 IQC 来料检验、器件选型,失效分析以及学校教学和轨道机车地铁高铁检测使用。
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