该量仪属于比对法测量,可快速GX测量孔内几何形状,自定ZX,应用范围广,操作简单精度高,结构牢固长寿命,不会划伤工件
| DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计,保证了测量结果的可能性,解决了孔径测量的对中难题,大限度减少了人为因素测量结果的影响,可方便、快速、准确得出测量结果。
测头为非标定制,按图纸及使用要求加工制作!
![](http://item.yiqi.com/pic/ConPic/1/content09-51-12-14-146612.jpg)
| 测头结构
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| | 测头参数
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1、手柄
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测头形式:盲孔
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2、显示装置
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测量范围:+0.15mm
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3、测针
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重复精度:0.001mm
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4、导向体
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线性误差:1%测量行程
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5、两瓣体
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测点半径:2.0mm
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6、测点
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测头寿命:可达100万次
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