运城市尼康N-SIM超分辨率显微镜

超分辨率显微镜以传统光学显微技术所从未达到的分辨率呈现出极为清晰的细胞结构与分子活动

尼康新推出的N-SIM显微镜系统可获得传统光学显微镜两倍的分辨率。使用独特的光学科技与制造技术，尼康享誉的Eclipse Ti研究级显微镜并配备的CFI Apo TIRF 100x oil物镜(N.A. 1.49)，以此为基础又结合了由UCSF(University of California，San Francisco旧金山加州大学)所授权的SIM技术就形成了全新的N-SIM系统。N-SIM在实现超级分辨率的同时还能以0.6秒/帧的时间分辨率实现了业内的超分辨率图像获取速度。

关键特性

几近传统显微镜双倍的分辨率

结合UCSF授权的“结构化照明显微术(S tructured I llumination M icroscopy)”与尼康声誉卓著的CFI Apo TIRF 100x oil物镜(N.A. 1.49)N-SIM几乎实现了传统光学显微镜两倍的分辨率。 

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