Super Sharp AFM Probes高分辨率AFM探针
Super Sharp AFM Probes高分辨率AFM探针提供高分辨率的针尖。特点是仅有2nm的曲率半径,在定点附近有比较大的长径比。
Super Sharp AFM Probes高分辨率AFM探针可用于轻敲模式,力调制模式,接触模式。
对应Super Sharp AFM Probes高分辨率AFM探针,我们提供3个品Pai,Team NanoTec,NanoSensors和NanoWorld以供选择。
高分辨碳纳米管AFM探针请参见
CNT碳纳米管探针 曲率半径为2nm的AFM探针: 高频率轻敲模式: SSS-NCH/SSS-NCHR(NanoSensors), SSS-NCH(NanoWorld) 低频率长悬臂轻敲模式: SSS-NCL/SSS-NCLR(NanoSensors), SSS-NCL(NanoWorld) 专为精工仪器设计: SSS-SEIH/SSS-SEIHR(NanoSensors), SSS-SEIH(NanoWorld) 曲率半径为3nm的AFM探针: 高频率轻敲模式: HR-SCC (125C40-R)(Team NanoTec) 力调制模式: HR-SCC (225C3.0-R) (Team NanoTec) 接触模式: HR-SCC (450C0.2-R) (Team NanoTec) 曲率半径小于5nm的AFM探针: 高频率轻敲模式: SS-ISC (125C40-R)(Team NanoTec) 力调制模式: SS-ISC (225C3.0-R) (Team NanoTec) 详情请见 http://www.hanstech.cn/Pro/SuperSharpAFM_Probes.html |