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JW－004全自动比表面仪
一、比表面仪技术参数如下：
主机功能比表面仪：
（1）单点及多点比表面仪，并可测定吸附常数C 值
（2）直接对比法比表面仪快速测定
（3）Langmuir比表面仪
测定范围：（1）比表面仪：0.1-3500㎡/g
比表面仪重复精度： ≤±3%
比表面仪测量原理：动态常压连续氮吸附法，BET原理，直接对比法
比表面仪样品种类： 纳米材料，氧化物，氧化硅，氧化锆，催化剂、钴酸锂、锰酸锂、正极材料、锂电池、纤维及其它可装入U型样品管样品
二、产品特点
1.采用本公司的氮分压精确控制新技术，可实现快速、精确、稳定的气体分压调节，完善了动态法BET测试技术，突破了长期以来国内动态法的技术瓶颈，真正实现动态法BET精确测定。
2. 比表面仪中另一个关键技术是测试系统死体积的校正和氮吸脱附峰面积所代表的氮气量体积的标定，若不能准确标定此体积，BET测试就无法实现。该仪器通过独特巧妙的气路设计实现了该参数的准确获得，确保测试结果的准确性。
3. 巧妙的气路系统设计和灵活的软件数据处理相配合，实现了简单的操作即可进行直接对比法，BET法相互转换，有利于用户根据实际需要灵活选择测试方法。
4. 比表面仪与国外同类产品相比，该仪器通过对并联气路的改进，可同时进行4个样品的BETBET法比表面积测定，大大提高测试效率。
5. 独立的样品脱气及预处理系统，可减少样品处理对测试系统的干扰和损害；可根据样品不同选择合适的处理方式，预处理和测试可同时进行，提高工作效率。配以我公司研制的样品预处理装置—JW吹扫机，可实现市场同类动态法产品无法实现的真空处理；
6. 比表面仪动态测试方法过程十分直观，可以观察到不同氮分压条件下，氮吸附和脱附的全过程，测试程序手动和自动控制有机结合，有利于对测试过程的灵活掌控。
精微高博公司研制JW系列静态容量法及动态法比表面仪
联系人：段小姐 联系电话：13816610399
比表面及孔径分布测定仪
静态容量法比表面及孔径分布测定仪JW-BK技术参数如下：
主要功能：比表面及孔径分布测定仪可实行BET比表面（多点及单点）测试，Langmuir比表面测试，炭黑外比表面测定，吸附、脱附等温曲线测定， BJH孔径分布、总孔体积和平均孔径测定；真空系统：极限真空度6×10-2Pa
测量范围：比表面 ≥0.01M2/g 至无规定上限，孔尺寸 0.7~ 400nm ;
样品数量：比表面及孔径分布测定仪可同时测定1-4个样品；测量精度：≤± 2% ；
压力控制：比表面及孔径分布测定仪高精度压力传感器，数字显示，精度 0.2%，独特的充气与抽气速度自动控制系统
运行方式：高度自动化，智能化，长时间运行可以无人看管自行测试
测试时间：比表面及孔径分布测定仪多点BET法比表面平均每个样品15分钟，孔径分布测试、孔隙度测试平均每个样品100分钟。测试气体：高纯氮气（不用氦气），氮气消耗极小；
吸附过程：JW-BK比表面及孔径分布测定仪样品不需要频繁从液氮杜瓦瓶中进出，液氮消耗极少软件系统：比表面及孔径分布测定仪在Windows平台上，提供过程控制和数据采集、处理、报告系统，多种测试方法可自由方便选择，在计算机屏幕上，同步显示吸、脱附，测试过程、可随时查看已完成部分的测试数据；本机软件功能强大、界面友好、兼容性高、使用方便；
联系人：段小姐 联系电话：13816610399
