LP Silicon-PYRA 04日射强度计通过一个硅光电二极管(400nm-1100nm)测量太阳总辐射。特殊的几何构造和散光器根据余弦定律可以测量180度范围内的总辐射场。
该日射强度计可以测量自然界的阳光。阴天时,Z好使用热电堆日射强度计(LP PYRA 03 或 LP PYRA 02)测量反射光。
LP Silicon-PYRA 04日射强度计可以测量可再生能源的太阳辐射,如太阳能光热和太阳能光伏。
LP Silicion-PYRA 04日射强度计的光谱响应没有覆盖所有的太阳光谱,也不是恒定的。
只有LP Silicion-PYRA 04日射强度计经过光校准,且校准光的光谱和所测光谱是一致的之后,才能精确测量。
在天气晴朗的条件下,该日射强度计测量的辐射值不确定性小于3%。
阴天、日出或日落时,太阳光谱和仪器校准的光谱大不一样,因此测量误差会增加。
技术参数:
典型灵敏性:20μV/(W/m2)
测量范围:0-2000W/m2
光谱范围:350nm-1100nm
响应时间:0.5秒
非线性:1%
温度漂移:<±0.15%/ °C
校准的不确定性:<3%
根据余弦定律响应:±3%(在0°…75°范围内)
工作温度:-40°C + 65°C
阻抗输出:25 Ω