2-欧米伽法纳米薄膜热导测试系统 TCN-2ω 说明：此产品售前技术交流服务和售后技术服务由北京柯锐欧科技
2-欧米伽法纳米薄膜热导测试系统 TCN-2ω
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技术特点：
这种独特的仪器采用热反射法测定纳米薄膜样品的交叉平面的热传导性；是世界上WY的商品化纳米薄膜装置。主要应用在半导体器件的热设计中，需要测量低k绝缘膜、有机薄膜、半导体薄膜的热阻。研发绝缘薄膜和提高热辐射。
能够测量形成在基板上的20至1000纳米薄膜的法线方向热导率
使用热反射方法，通过温度振幅测量导热参数
样品制备简单
TCN-2ω | |
温度范围 | 室温 |
样品尺寸 | 20-1000nm（厚度）（沉积10mm*20mm基板；基板厚度0.5-1mm） |
测量气氛 | 真空 |
2-欧米伽法纳米薄膜热导测试系统 TCN-2ω
GBW13974 物理特性标准物质 二氧化硅纳米薄膜厚度
GBW13973 物理特性标准物质 二氧化硅纳米薄膜厚度
GBW13971 物理特性标准物质 二氧化硅纳米薄膜厚度
GBW13969 物理特性标准物质 二氧化硅纳米薄膜厚度
GBW13974 二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质—物化特性
GBW13968 二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质—物化特性
ZR-4200 纳米薄膜制备仪---浸渍提拉机
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质GBW13973
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质GBW13971
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质GBW13969
二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质GBW13967
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