台式扫描电镜价格_详细资料

产品信息 JCM-6000PLUS桌上型扫描电镜 显微镜＋影像观察＋成份分析＋尺规量测 高真空模式二次电子像(SEI)拥有更好的图像分辨率与景深。 高真空二次电图像能达到更高的分辨率与景深，能达到更大的放大倍率，观察起伏度更大得样品。透过二次电子图(SEI)像与背散电子图(BSI)像的比较，更能清楚地了解样品表面结构细节。高真空状态下也能切换到背散电子图像，观察样品的成分像。 低真空模式背散电子图像(BSI)，无镀金直接观察含水份样品。 JCM-6000PLUS标配低真空模式，在低真空状态下，样品仓中少量的气体可以中和样品表面的电荷，降低样品放电撞，直接观察未镀金的不导电样品。低真空模式也能有效观察部分含水气或油气样品。 手机一般的触控式操作 ➥   A>触控式操作区域 ➥   B>自动对焦丶亮度丶对比 ➥   C>手动微调设定 ➥   D>寻找影像 ➥   E>Z小放大倍率 ➥   F>预设放大倍率 编辑寻找影像如此简单 操作者可用影像寻找视窗寻找与列印图像。也可以储存任何影像拍照时的设定条件(包括加速电压丶加速电流丶束流大小等等)。 选择图像後按下输出影像即可在影像寻找视窗中预览输出。也可以一次选择多个图像，系统自动分页，每个页面有三个图像。 双视窗观察模式丶方便不同影像直接进行比对 JCM-6000PLUS可同时显示即时影像与回看影像。如上图视窗，右边是低放大倍率的储存影像，左边是高放大倍率的即时影像。操作人员可以直观的比较及时影像与储存影像之差异。 JCM-6000PLUS内建点对点量测功能 JCM-6000PLUS NeoScope内建量测功能，可量测两点之间的距离丶图像倾斜角度。量测结果可直接显示在图像上，也能够储存成CSV档案。 EDS支援点丶线扫丶面(MAPPING)成份分析，功能强大操作简单。 按下分析键即可打开EDS视窗。EDS支援定性/定量分析，从单点元素分析丶线元素分析丶面元素分析(元素分布图)。JCM-6000Plus可搭载JEOL独有的固态半导体EDS，能在影观察的任一时刻提供即时元素分析。選擇分析點影像位置，按下分EDS析鍵，兩個動作即可進行EDS成份分析、元素定性/定量分析。 多点成份分析 当您在图像上选择多个点的成份分析，系统会依序自动分析选取点的元素成分，显示分析图谱。您可在完成分析後比较分析图谱。 面扫MAPPING全影像成份分析 使用MAP键即可开启面扫(Mapping)功能，面扫功能可以清楚了解分析区域内的元素二维分布状况。并俱有下列优势： 1.创建各个元素分布的浓度二维彩色空间分布图像，图像中颜色代表该元素的浓度。 2.随时新增任何元素的浓度分布二维图。 3.选择图像中部份区域来观察EDS图谱，了解该区域全成分分析结果与各个元素所占百分比。 4.重叠各元素分布的二维图谱，从而了解个元素分布的所在位置与相互关系。 分析助理程序，引导您一步一步完成MAPPING分析。 分析助理程序可以引导操作人员依序完成分析，包括线成份分析丶面成分份析(成分图)。当您在分析助理程序中选择一种分析模式，系统会显示所需要的分析步骤，视窗中显示的分析按进，会逐步引导操作人员完成分析。 1.选择MAP 2.选择分析分析图像 3.选择分析条件 4.选择分析元素 5.确认分析条件 6.开始分析 马达驱动样品台与旋转丶倾斜样品台(选购件) 马达驱动旋转与倾斜样品台让操作人员从不同角度观测样品。倾斜样品台能提供更多观察角度，更好地观察样品三维状况。 倾斜角：0度° 倾斜角：60度° 无需待机丶三分钟快速启动 开启电源开关到仪器准备完成只需三分钟。置入样品到开始分析只需150秒。 真空溅镀仪(镀金机) 样品镀金後用高真空二次电子模式(SEI)观察丶能获得更优质的影像丶更好景深及影像分辨率。 左右⇔滑動 JCM-6000PLUS桌上型扫描电镜产品介绍影片(英) JCM-6000PLUS桌上型扫描电镜 显微镜＋影像观察＋成份分析＋尺规量测

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