X射线荧光测厚仪标准片 ，镀层测厚仪校准片，膜厚仪标准片

    美国CAL标准片，CALMETRIC标准片，CMI标准片，测厚仪标准片，CAL校正片，又称标准箔，膜厚片，通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品PaiFischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，国产天瑞，纳优等)。

    测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀和半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。