是否提供加工定制 | 否 | 类型 | 反射时域 |
品Pai | 爱思达 | 型号 | TR2010 |
测量范围 | 50(MΩ) | 测试电压 | 220(V) |
精度 | 50Ω±1% | 重量 | 5(kg) |
广东正业自主研发生产的TDR-ZK2120、ZK2130特性阻抗测试仪,是采用时域反射技术设计的特性阻抗测试系统。特性阻抗测试系统适合PCB工厂快速测试,操作简单,自动出具测试结果,自动记录测试数据,并生成报表并保存在磁盘上。该产品非常人性化,可快速定制测试任务及批量化,集成测试文件编辑器,显示测试形,统计数据分析及测试结果,还可直接打印测试报表,波形和测试结果。产品符合IPC-TM-650和IPC-2141标准
特性阻抗测试仪相关技术参数:
特性阻抗测试仪外形尺寸:450mm×88mm×305mm(宽×高×深)。
控制阻抗测试范围:20-150Ω
测量精度:50Ω±1%
测量长度:Z大2M
水平显示分辨率:0.2mm
垂直现实分辨率:0.03Ω
测试方式:时域反射法
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